JTAG (Joint Test Action Group)

JTAG

 JTAG은 IEEE 1149.1 표준으로써 디지털 회로에서 특정 노드의 디지털 입출력을 위해 Serial 통신으로 데이터를 주고 받는 방식을 말한다. JTAG을 통해 데이터를 Serial통신 하는 방식은 Boundary Scan으로 구현되기 때문에 JTAG대신 Boundary Scan이라는 용어로 사용되기도 한다. 임베디드 시스템의 디버깅 장비가 대표적인 예이다. CPU를 특정 위치에서 멈추고 상태를 읽어볼 수도 있다.

 JTAG은 칩 내부 Boundary Cell을 만들어 외부 핀과 1:1 매칭시키고, 프로세스 동작을 Cell을 통해 인위적으로 수행할 수 있게 한다. 이로 인해 물리적인 하드웨어 작업 없이 하드웨어의 테스트나 연결 상태등을 체크할 수 있게 되어 기존 보드 테스트 방식의 안정성과 비용 문제를 대폭 해결하였다.

하이엔드 JTAG 디버거 XDS560V2

 

 

JTAG 인터페이스

 JTAG은 다음의 5개 핀으로 칩 내부에서 동작한다.

1.TDI (데이터 입력) : Test하기 위한 데이터 신호. TMS에 의해 전이된 TAP state에 따라, TDI가 command/data 가 결정됨
2. TDO (데이터 출력) : Test한 결과를 외부에서 모니터링 하기 위한 pin, 이 역시 TAP state에 따라 address/data가 될 수 있음.
3. TCK (클럭) : Test clock
4. TMS (모드) : Test Mode로 전환하기 위한 제어 신호
5. TRST (리셋) 

데이터 라인이 한개이므로, 시리얼 통신 방식을 사용하여 Boundary Cell과 외부 핀의 통신을 주고 받는다.